X光單晶繞射儀


X光單晶繞射儀可以鑑定各種分子(藥物、材料、礦物等)在結晶樣品中的形狀及結構,精確的原子間距及其他結構參數均可鑑定出來,通常結果以三度空間的分子圖像表示出來,是化學、材料、醫藥等各方面均需使用之儀器。

儀器設備說明

本實驗室有一台-光單晶繞射儀(Regaku AFC7S),配以靶的光管式X光光源。可供分析邊長0.1米至0.7米的化學結晶的晶格參數及空間群,並收集繞射數據,進而經電腦工作站解析而得到晶體內部原子位置的三度空間結構數據。

服務項目

n          一般服務

   (1)晶系、晶格常數測定

   (2)單晶繞射數據收集

   (3)晶體內分子結構解析

n          特殊服務

   (1)空氣不穩定樣品處理及繞射資料收集

   (2)其他機種收集之繞射資料解析

   (3)低溫實驗之資料收集

試片準備

1.送件前須測定是否為空氣穩定性樣品,再上網預約並填具申請表或電工作人員填申請表後交付樣品。

2.特殊服務需與儀器負責人諮商,經核可後預約測定時間。

收費標準

1.晶格常數測定:500/

2.繞射相片:100/

3.繞射數據收集:150/小時

4.單位樣品數據解析為4,000元,困難及耗時之結構解析費用另計。

聯絡方式  指導教授:蔣燕南教授,理學院化學系

                   TEL: (07)5252000 ext. 3949

                   操作員:宋勇毅先生 

         TEL: (07)5252000 ext. 3949

                   儀器地點:理學院化學系C5010