本系統包含三部X光繞射儀：極圖繞射儀，高解析X光繞射儀，粉末繞射儀。極圖量測的繞射儀使用鈷靶，並配備平行光束與聚焦光束的毛細管透境，適合鋼鐵、非鐵金屬、陶瓷與礦物的極圖量測；高解析X光繞射儀使用銅靶，配備聚焦透鏡及單光儀，可進行一般繞射分析，低掠角繞射分析，高解析磊晶薄膜繞射分析，X光反射率量測；粉末繞射儀使用銅靶，配備192通道的高解析偵測器，θ-θ設計的量角儀，可進行水平放置的多晶塊材及粉末材料的結構分析。

儀器設備說明

• 極圖繞射儀(Bruker D8-Discover)：鈷靶，點光源，備毛細管透鏡 (平行光、聚焦光束及顯微光束三種)
• 高解析繞射儀(Bruker D8-Discover)：銅靶，線光源，聚焦透鏡，Ge(220)非對稱單光儀，二次側可變狹縫光柵與三軸晶體
• 粉末繞射儀(Bruker D2-Phaser)：銅靶，線光源，配備192通道的高解析偵測器

服務項目

• 極圖(pole figure)量測分析
• 結晶方位分布函數計算
• ω-2θ，ω，2θ，Phi，Chi繞射分析
• X光低掠角繞射分析(Grazing incidence X-Ray Diffraction)
• 高解析磊晶繞射分析(High Resolution X-Ray Diffraction)
• X光反射率(X-Ray Reflectometry)量測分析
• 多晶塊材及粉末材料繞射分析

試片準備

• 極圖組織量測：樣品2cm*2cm *0.5cm(其他尺寸請洽技術員)
• 一般繞射、GID、Rocking Curve、XRR、HR-XRD等樣品大於1cm*1cm
• 粉末樣品需磨細成粉狀，不可有顆粒，至少0.5g
• 固態樣品，需先研磨平整
• 有毒樣品恕不受理

收費標準

1.  極圖量測、高解析磊晶繞射 (HR-XRD) 、X光低掠角繞射(GID)：每件30分鐘，超時累計。(計畫150元/非計畫1000元)
2.  結晶方位分布函數計算(ODF)每組加收 (計畫200元/非計畫1000元)
3.  X光反射率 (XRR) ：每件30分鐘，超時累計。(計畫150元/非計畫1000元)。厚度模擬每組加收500元。
4.  一般繞射分析(粉體、塊材)：每件30分鐘，超時累計。(計畫130元/非計畫800元)。
5.  一般繞射分析相鑑定：每件計畫130元/非計畫800元

聯絡方式