軟物質材料分析專用如高分子材料、有機材料、有機/無機複合材料、生物材料、薄膜試片等。以200KV高能量穿透試片，用以觀察軟物質形態與形貌、量測尺寸、分析材料內部之微細組織、缺陷及晶體結構。並能同時提供高角度多方位之形態觀察、繞射分析及明、暗視野影像。

儀器設備說明

• 型號：JEOL JEM-2100 Transmission Electron Microscope

• 規格：

1.  加速電壓：0~200KV
2.  放大倍率：50~1,200,000X
3.  解像力：Point : 0.25nm; Lattice : 0.14nm
4.  Spot size : 1.5~200nm
5.  Specimen Tilt Angle: X≧±40°, Y≧±30°

• 附件：

1.  CCD照相系統(2672 x 2672 pixel)
2.  High tilting stage: X≧±70°
3.  能量分散光譜儀: Oxford X-MAX 80T

功能及用途

1.  可作各種軟質材料微細組織，晶體結構及缺陷觀察分析
2.  可作繞射分析，鑑定結晶材料之取向與晶相
3.  材料元素分析，元素分析範圍 Be(4) to Am(95)

服務項目

• 軟物質形態觀察分析及繞射分析

收費標準

1.  燈絲使用時間每一時段（以三小時計）

1,800元/計畫使用；600元/自行操作計畫；6000元/非計畫使用

2.  真空蒸著或金屬投影，每次3000元
3.  染色，每件1000元
4.  底片拍照每張3000元
5.  元素分析：每一個點100元/計畫使用；300元/非計畫使用

試片準備

• 試片大小：直徑3mm，並已薄化者
• 試片穩定度：已經由化學或是物理方法處理，耐電子束照射之試片者
• 高分子及有機樣品：須先提供予負責貴儀技師或儀器負責教授相關之穩定性測試報告如材料之化學結構、熱裂解溫度、熔點、液晶轉移溫度、玻璃轉移溫度等，用以初步審核該試片於電子顯微鏡下之分析可行性
• 生物樣品：須先與負責貴儀技師或儀器負責教授討論及說明該試片之固定法與穩定度
• 在電子束照射下試片會分解、釋出氣體之樣品及磁性材料恕不受理

聯絡方式