設備1：高解析度探針顯微鏡

儀器設備說明

• SPM ( 廠牌：Digital Instrument 、型號：NanoMan NS4+D3100 )

儀器功能說明

• 材料表面型貌及物理特性量測與分析
• 最大掃描面積：20×20×6 um
• 最大橫向解析度：Å LEVEL
• 最大垂直解析度：0.1Å

服務項目

• 測量出樣品奈米級表面形貌
• 測量樣品表面摩擦力大小分佈圖
• 測量樣品表面磁性分佈圖
• 測量樣品表面導電性質分佈圖
• 測量出樣品表面電位能性質分佈圖
• 測量樣品表面Phase的分佈圖
• 測量樣品表面黏著力的分佈圖
• 測量樣品表面化學力分佈圖
• 測量樣品表面穿遂電流分佈圖
• 測量樣品硬度等材料機械性質量測
• Contact mode 及 Tapping mode 均可在開放或封閉式液體下操作
• 應用力量及電流方式在材料表面刻出或長出不同奈米級圖案

樣品大小

• 直徑200mm，厚度12mm

收費標準

1.  委託操作：計畫委託900元/hr，非計畫委託3500元/hr
2.  自行操作：計畫自行操作500元/hr

聯絡方式

指導教授：周雄 教授  理學院物理系

TEL：(07)5252000 ext. 3722

助理：蔡亞東  (0965029009)

儀器地點：國際研究大樓B1 貴重儀器中心

設備2：變溫探針顯微鏡

儀器設備說明

• SPM ( 廠牌：Seiko、 型號：HV-300 )

儀器功能說明

• 材料表面型貌及物理特性量測與分析
• 最大掃描面積：20×20μm
• 最大測向解析度：0.3nm
• 最大垂直解析度：0.01nm
• 真空度：大氣～10^-7 Torr
• X-Y載台移動：±6mm
• 溫度控制：-120℃～+800℃ (300℃下量測)

服務項目

• 樣品奈米級表面形貌
• 樣品表面摩擦力大小分佈圖
• 測量樣品表面磁性分佈圖
• 測量樣品表面導電性質分佈圖
• 測量樣品表面Phase分佈圖
• 測量出樣品表面電位能分佈圖
• 測量樣品表面穿遂電流分佈圖
• 測量樣品表面側向力分佈圖
• 測量樣品表面黏著力的分佈圖
• 應用力量及電流方式在材料表面刻出或長出不同奈米級圖案
• 以上功能皆可在 -120℃ ~ 300℃ 的溫度範圍量測及真空度可到1×10^-6 Torr

樣品大小

• 最大25mmΦ×5mm（室溫下量測），10mm×10mm×3mm（溫度控制）

收費標準

僅供委託操作

委託操作: 計畫委託900元/hr，非計畫委託3500元/hr；耗材費500元/hr

聯絡方式

指導教授：周雄 教授  理學院物理系

TEL：(07)5252000 ext. 3722

助理：蔡亞東  (0965029009)

儀器地點：物理所 D7007室